介电常数介质损耗测试仪 介电常数及介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。

LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪是我公司研制生产的产品，自该产品实现销售后，我公司工程师就一直持续不断对产品改进升级；特别是在软件上不断地加以完善，改进了早期产品存在的不足之处，提高了测试精度，并增加新的功能。

介电常数介质损耗测定仪 　LJD-B/C主机能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介电常数和介质损耗因数，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。

介电常数及介质损耗测试仪特点： 电桥显示屏幕为彩色TFT显示，能直接显示被试品电容量Cx、介损tgδ、介电常数εr、试验电压Upk/√2、试验频率Hz、电极面积A、材料厚度h、电感量Lx、品质因数Qx、测试电源频率fx、视在功率S、有效功率P、无功功率Q、电线电缆的介损介电常数（管状材料）、测量系统接线图等。

介电常数介质损耗仪 器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用LJD-A/B或LJD-C数字Q表具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。

QS37a型绝缘纸介电常数介质损耗测定仪是本公司推出的新一代绝缘纸介电常数介质损耗测试仪,主要用于测量高压工业绝缘介质损耗角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路,主要可以测量各种绝缘材料在工频高压下的介质损耗（tgδ）和电容量（C）及介电常数(ε)。